SXJS-IV全自動抗干擾介質(zhì)損耗測試儀是一種先進(jìn)的測量介質(zhì)損耗（tgδ）和電容容量（Cx）的儀器，SXJS-IV全自動抗干擾介質(zhì)損耗測試儀用于工頻高壓下，測量各種絕緣材料、絕緣套管、電力電纜、電容器、互感器、變壓器等高壓設(shè)備的介質(zhì)損耗，（tgδ）和電容容量（Cx）它淘汰了 QS 高壓電橋，具有操作簡單、中文顯示、打印、使用方便、無需換算、自帶高壓、抗干擾能力強、測試時間（在國內(nèi)同類產(chǎn)品中速度zui快）等特點。 SXJS-IV全自動抗干擾介質(zhì)損耗測試儀主要技術(shù)參數(shù)： 1、環(huán)境溫度：0 ～ 40℃（液晶屏應(yīng)避免長時日照）
2、相對濕度：30% ～ 70%
3、供電電源：電壓：220V±10%、頻率：50±1Hz
4、外形尺寸：長×寬×高 500mm×300mm×400mm
5、重量： 約18Kg
6、全自動抗干擾介質(zhì)損耗測試儀輸出功率：0.6KVA
7、顯示分辯率：3位、4位（內(nèi)部全是6位）
8、測量范圍及輸出電壓選擇：
介質(zhì)損耗（tgδ）：±0.00～±999%
試品電容容量（Cx）和加載電壓：
2.5KV檔:≤300nF（300000pF） 3KV檔:≤200nF（200000pF）
5KV檔:≤76nF（76000pF） 7.5KV檔:≤34nF（34000pF）
10KV檔:≤20nF（20000pF）
9、基本測量誤差：
介質(zhì)損耗（tgδ）：1%±7個字（加載電流20uA～500mA）
介質(zhì)損耗（tgδ）：2%±9個字（加載電流5uA～20uA）
電容容量（Cx）：1.5%±1.5pF
|
